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搜索 “FLH:(G01Q)” 共找到 1760 件专利

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201720645302.3-用于液体环境的原子力显微镜
不可售 已下证 PDF全文
申请人: 苏州飞时曼精密仪器有限公司 申请日: 2017-06-06 主分类号: G01Q60/24 公开号: 207301107U 公开日: 2018-05-01 授权日: 2018-05-01 分类号: G01Q10/00 ; G01Q10/06 ; G01Q60/24
摘要: 本实用新型公开了一种用于液体环境的原子力显微镜，包括：AFM主机、控制系统和计算机处理模块，所述AFM主机包括XY向扫描台、设置在所述XY向扫描台上的Z向扫描台、设置在所述Z向扫描台上的液体盒、设置在所述液体盒上的透明玻璃、设置在所述透明玻璃底部的探针定位块、设置在所述探针定位块上的探针及设置在所述透明玻璃上方的激光器、半透镜、反光镜和四象限探测器。本实用新型的用于液体环境检测的原子力显微镜，实现了在全液相环境下样品的扫描检测，本实用新型结构设计巧妙，消除了气体和液体的界面，避免了液体表面张力和液面抖动对微探针以及激光光路的影响，使激光在液体下对准更加简单，操作更加方便，检测结果更加准确。
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201921478830.X-超高真空原位微型薄膜与电极生长系统
不可售 暂无 PDF全文
申请人: 仪晟科学仪器（嘉兴）有限公司 申请日: 2019-09-06 主分类号: G01Q60/00(2010.01) 公开号: 210775554U 公开日: 2020-06-16 授权日: 2020-06-16 分类号: G01Q60/00(2010.01) ; G01Q30/20(2010.01) ; G01Q30/16(2010.01) ; G01Q30/10(2010.01) ; G01Q30/02(2010.01)
摘要: 本实用新型公开了一种超高真空原位微型薄膜与电极生长系统，包括超高超高真空腔体部和样品传递系统，所述样品传递系统包括第一传样杆和第二传样杆，所述第一传样杆和所述第二传样杆分别位于所述超高真空腔体部的侧端并且分别与超高真空腔体部刀口法兰密封连接；所述样品制备机构包括样品台和位置调节机构，所述样品制备机构位于所述超高真空腔体部的上端并且部分内嵌于所述超高真空腔体部，所述样品制备机构与所述超高真空腔体部通过刀口法兰密封连接。本实用新型公开的一种超高真空原位微型薄膜与电极生长系统，其可以通过在超高真空内原位薄膜生长和电极生长制作微型复杂图案的输运测试样品。
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201921487258.3-超高真空极低温四探针测量装置
不可售 暂无 PDF全文
申请人: 仪晟科学仪器（嘉兴）有限公司 申请日: 2019-09-06 主分类号: G01Q60/00(2010.01) 公开号: 210775555U 公开日: 2020-06-16 授权日: 2020-06-16 分类号: G01Q60/00(2010.01) ; G01Q30/02(2010.01) ; G01Q30/10(2010.01) ; G01Q30/16(2010.01) ; G01Q70/08(2010.01)
摘要: 本实用新型公开了一种超高真空极低温四探针测量装置，包括底座，所述底座设有螺纹腔和支撑部，螺杆部分内置于所述螺纹腔，所述螺杆的顶部为半球；探针台位于所述底座的上端并且所述底座通过支撑部支撑所述探针台，所述螺杆通过半球与所述探针台接触并且所述螺杆通过旋转使半球顶着探针台旋转，所述探针台的上端安装有四个探针，所述探针用于接触电极并且检测电极的完好性，样品托装置的上端与所述上板架固定连接。本实用新型公开的一种超高真空极低温四探针测量装置，其与显微镜配合使用，加通直流电检测样品的完好性。
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201921487278.0-超高真空极低温原位多探针输运测量系统
不可售 暂无 PDF全文
申请人: 仪晟科学仪器（嘉兴）有限公司 申请日: 2019-09-06 主分类号: G01Q60/00(2010.01) 公开号: 210775556U 公开日: 2020-06-16 授权日: 2020-06-16 分类号: G01Q60/00(2010.01) ; G01Q30/16(2010.01) ; G01Q30/10(2010.01) ; G01Q70/06(2010.01)
摘要: 本实用新型公开了一种超高真空极低温原位多探针输运测量系统，包括快速进样室、生长室、输运测试室、真空互联系统、系统支架及电源系统，其中快速进样室主要实现大气和超高真空环境之间快速传递样品和针尖；生长室主要在高温下实现指定图案薄膜器件和电极的生长；输运测量室主要实现生长好的薄膜器件在极低温下的原位多探针输运测量；真空互联系统主要实现系统与其他系统的真空连接。本实用新型公开的一种超高真空极低温原位多探针输运测量系统，其可以通过真空环境和制冷技术，能够实现从低温到室温的样品温度控制。
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201720613253.5-磁-电-热多参量耦合显微镜探针
不可售 已下证 PDF全文
申请人: 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 申请日: 2017-05-27 主分类号: G01Q70/08(2010.01) 公开号: 206848304U 公开日: 2018-01-05 授权日: 2018-01-05 分类号: G01Q70/08(2010.01) ; G01Q70/14(2010.01) ; G01Q70/16(2010.01) ; G01Q30/02(2010.01)
摘要: 本实用新型提供了一种磁‑电‑热多参量耦合显微镜探针，包括探针臂，以及与探针臂相连的针尖本体，自探针臂与针尖本体表面向外，依次覆盖着热电偶层、导热绝缘层以及磁性导电层；热电偶层与外部电路构成热电回路；磁性导电层与样品、外部电路构成导电回路。该探针结构简单、制备难度低，能够原位微区探测磁电功能材料的磁信号、电信号和热信号，并且能够有效避免热电回路与电回路之间的信号干扰。
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201921485111.0-超高真空极低温用压电陶瓷精密旋转台
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申请人: 仪晟科学仪器（嘉兴）有限公司 申请日: 2019-09-06 主分类号: G01Q30/10(2010.01) 公开号: 210775553U 公开日: 2020-06-16 授权日: 2020-06-16 分类号: G01Q30/10(2010.01) ; G01Q30/16(2010.01) ; G01Q30/20(2010.01)
摘要: 本实用新型公开了一种超高真空极低温用压电陶瓷精密旋转台，包括外壳、旋转平台、旋转轴、轴承和上顶片。所述旋转轴具有上端部和与上端部一体成型的下端部，所述旋转轴与旋转平台固定连接。所述轴承和上顶片依次套接于旋转轴的上端部，所述上顶片与旋转轴的下端部之间具有供置入至少一个压电陶瓷组件的第一空间。本实用新型公开的超高真空用大行程精密压电位移台，采用逆向压电效应，使电能被间接转化为旋转运动的动能。与传统电机相比，具有体积较小、延迟较低、转矩较大、旋转精度高、低速运行稳定、可控性高等特点。
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202020533803.4-一种叶片表面缺陷形貌检测装置
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申请人: 南京市梵天精测科技有限公司 申请日: 2020-04-13 主分类号: G01Q70/02(2010.01) 公开号: 211856643U 公开日: 2020-11-03 授权日: 2020-11-03 分类号: G01Q70/02(2010.01) ; G01Q30/00(2010.01) ; G01Q40/00(2010.01)
摘要: 本实用新型公开了一种叶片表面缺陷形貌检测装置，包括支撑架、固定座、计算机显示屏、扫描支撑座、SPM单元、计算机主机，所述计算机显示屏安装于固定座上，且固定座放置于支撑架的顶部，所述计算机主机安装于支撑架的内侧，且计算机主机和计算机显示屏通过导线连接，所述支撑架的内侧面延伸设置有放置架，所述SPM单元置于放置架内，所述扫描支撑座置于支撑架的顶部，并位于计算机显示屏的一侧；本实用新型的有益效果是：通过设计的稳固组件，起到对扫描支撑座的稳固支撑，提高了扫描支撑座放置在支撑架上快速稳固的效率；通过设计的支撑活动机构，实现水平板的快速抽拉，从而更快捷的对SPM单元检修，提高了对SPM单元检修的效率。
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202021098684.0-一种气氛温度可调的扫描电化学-手套箱联用装置
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申请人: 中国科学院兰州化学物理研究所 申请日: 2020-06-15 主分类号: G01Q60/60(2010.01) 公开号: 213337697U 公开日: 2021-06-01 授权日: 2021-06-01 分类号: G01Q60/60(2010.01) ; G01Q30/08(2010.01) ; G01Q30/10(2010.01)
摘要: 本实用新型公开了一种气氛温度可调的扫描电化学‑手套箱联用装置，以扫描电化学工作站与手套箱联用为基础，实现气氛可调、不同状态下的电化学分析测试；该联用装置包括电路连接接口、密封接口、小型电解池、手套箱、无水无氧系统以及两台电化学工作站。该联用装置不仅可以实现大气氛围下的腐蚀以及如水系电容器等电极材料的常规电化学测试，还可以实现如锂离子、钠离子与钾离子等新型储能器件所需无水无氧的惰性气体氛围下的扫描电化学测试，克服了传统密封电解槽等测试不连续、可靠性差的问题。该装置完成了新型储能电极材料稳定、连续的实时监测，为储能机制探讨提供稳定高可靠平台。本实用新型适用于腐蚀、电化学原位分析等领域。
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201922216397.9-一种样品结构
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申请人: 中国科学技术大学 申请日: 2019-12-11 主分类号: G01Q60/18(2010.01) 公开号: 211785621U 公开日: 2020-10-27 授权日: 2020-10-27 分类号: G01Q60/18(2010.01) ; G01Q40/00(2010.01) ; G01Q30/20(2010.01)
摘要: 本申请提供一种样品结构，所述样品结构，包括衬底、位于衬底上的金属薄膜，以及位于金属薄膜内部或其上的纳米结构。样品结构简单，制作方法简易，能够在倾斜入射光照射下，产生的近场光场分布能够被SNOM检测到，且对入射光空间角具有良好响应，能够用于SNOM近场光场成像，进而由SNOM近场光场成像测量结果反推出入射光空间角分量，从而实现对SNOM设备入射光空间角的标定。
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201520207523.3-基于扫描探针显微镜的材料耐电晕放电老化性能检测装置
不可售 已下证 PDF全文
申请人: 哈尔滨理工大学 申请日: 2015-04-08 主分类号: G01Q60/00(2010.01) 公开号: 204479610U 公开日: 2015-07-15 授权日: 2015-07-15 分类号: G01Q60/00(2010.01) ; G01Q60/46(2010.01) ; G01Q60/50(2010.01)
摘要: 基于扫描探针显微镜的材料耐电晕放电老化性能检测装置，涉及一种材料耐电晕放电老化性能检测装置。本发明是为了解决现有的针板电晕放电测试装置在检测材料放电老化性能时，不能原位的连续检测材料的变化的问题。导电纸的另一端与导电悬臂的一端连接；导电悬臂悬挂在压电陶瓷扫描器的上方；扫描探针显微镜的探针固定在导电悬臂的另一端；压电陶瓷扫描器的上端放置有样品，扫描探针显微镜的探针位于样品的上方；激光器发射的激光入射至扫描探针显微镜的探针背面，激光经扫描探针显微镜的探针反射至探测器；继电器、计时器和电流表均串联在保护电阻和高压电源之间。本发明适用于材料耐电晕放电老化性能检测。
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